按鍵壽命試驗機

按鍵壽命試驗機可對手機、MP3、電腦、電子詞典按鍵、搖控器按鍵、矽橡膠按鍵、矽膠制品等做壽命測試，适用於(yú)檢測按鍵開關、輕觸開關、薄膜開關等各類按鍵進行壽命試驗。具有速度可調，次數任意設定，同時可測試數個産品（每個産品均可多點測試）。另每個按鍵可以設定不同壓力及不同高度。同時採(cǎi)用每個測試頭分開控制,專用夾具設計，人性化操作,可滿足客戶不同測試需求。

實驗原理：

按鍵壽命試驗機運用馬達傳(chuán)動偏心輪使連杆來回上下移動，從而來打擊按鍵；結果設定好計數器的測(cè)試次數，從而來判定矽膠按鍵的好壞。

産品特點：

●排序/同時打擊測(cè)試兩種模式可切換(huàn)，可真實模拟手機鍵盤真實使用狀況；

●採(cǎi)用日本SMC精密氣動元件，打擊力精準可調(diào)（校力儀校準），耐久使用；

●採(cǎi)用三菱液晶觸(chù)摸屏+PLC作程序控制，品質可靠；

●可同時測(cè)試4組手機，不同治具上下、左右、前後可調滿足不同規格之産(chǎn)品實物按鍵測(cè)試；

●滿足手機正面、側(cè)面按鍵同時測(cè)試要求，配以校力裝置，真實反映按鍵耐打擊能力；

技術參數：

測(cè)試手機數量：3台共18個(gè)鍵

測(cè)試(shì)荷量：0-500gf或200-1500gf(或指定)

機(jī)台尺寸：W700XD350XH570mm

重量：75kg

氣源：≥0.6MPa

電(diàn)源：AC220V 3A或指定

注意事項：

1、擊打力通過面闆上的電(diàn)壓旋鈕0－18V進行調節﹐在一定電(diàn)壓下﹐最大擊打力總是在電(diàn)磁鐵鐵芯被吸入（吸到底）時達(dá)到。

2、擊打距離可通過調(diào)整立柱上的調(diào)整螺絲和電(diàn)磁鐵固定形鐵背後的螺絲來實現。

3、也可通過正或反旋轉擊打頭來調整（當(dāng)電(diàn)磁鐵與擊打頭是通過螺紋連接方式時）。

4、由於(yú)擊打力與擊打行程顯非線性關系﹐請調(diào)整時注意。